設計不良や製造工程上の不良などが原因の先天的な障害と 経年劣化や動作環境が原因の後天的な障害の2種類が考えられます。
　

ハードウェアの障害として、他の機器同様に設計不良により反射やクロストーク、そしてスキューの 危険性はありますが、 USBデバイスと比べて設計が高度である上、、現在それほど普及してい無いのでUSBのような製品開発競争が 加熱していないこともあり、最近では先天的障害を持つ製品はあまり見られません。 また、ソフトウェアの障害として、各対応機器が持つオプションROMの構成が正しくないと、 通信が行われない場合があります。
　

長期間の使用で起こる経年劣化と動作環境/取扱環境による急速な製品劣化など様々な要因がありますが、 具体的には以下のような例があります。

• 熱による長期的な化学変化で各部品や配線、配線接合部やケーブルの特性劣化によりノイズ発生



• 帯電した人体/物体と接触時の放電によってや各部品の配線断



• 雷などのサージ電流によって各部品や基盤配線断またはケーブル配線断



• IEEE1394拡張カードの挿抜による接続端子の磨耗によりPCIスロットと接触不良



• 酸化などの化学変化で各部品や配線、配線接合部やケーブル内配線が腐食し、接触不良



• 振動による各部品接合部の半田剥がれで内部配線不良または配線断



• 衝撃によって各部品の配線断、およびケーブル配線断



• 炎天下や排気不良などの高温環境下での熱によって各部品やケーブルの特性劣化



• ユーザの実装ミスで基盤が破損し、基盤内部配線断またはコネクタ損傷


など

これらの要因により、機器は動作不良または動作不能状態に陥ります。

以下に主なテストを説明します。
　

コントローラ情報を表示し、IEEE1394 バス デバイスから検出されたコントローラに有効な CRC (Cyclic Redundancy Check) 値が設定されているか確認します。PC 上のIEEE1394バスデバイスに コントローラが存在するかを確認します。 　
　

バス リセット生成カウントを使用して 通信線が正常に動作していることを確認します。 通信線を2回リセットし、バスリセット生成カウントを比較します。